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2016新版Columbus蛋品无损检测仪新特点

发表时间: 点击:2462

来源:北京博普特

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   新版Columbus是一款独立设备,集成操作界面。无需额外配计算机。可提供集中备选方式来自动将测量数据放置到你的数据管理系统 (如共享驱动 ,实验室信息系统或ERP)。Columbus 有几种不同版本。基本版特征与目前AET基本相同。 因新版声学蛋品检测仪有许多其它新特点,所以取新名为Columbus。

   Columbus 是一款组合声学蛋品检测仪(AET)和其它特征的仪器,较初由 Leuven (Belgium)大学的蛋品质量和孵化研究组研发,目前在无数商业机构和实验室使用, Leuven大学较终选择INDUCT(OCTINION)作为AET研发和商业化的合作伙伴。INDUCT(OCTINION)公司位于比利时首都布鲁塞尔,一直专注于农业和食品工业领域的检测和测量设备设计和生产。

声学共振分析是一门非常有用的技术,可用来研究所有产品的振动行为。 Coucke (1998) 首先将该技术应用于鸡蛋检测上。该技术基本想法用脉冲激振激发鸡蛋,例如,用小锤子敲击蛋壳上,受影响蛋壳的振动通过小麦克风记录下来。从该时间信号计算出振动的频谱。 较终,可从获得的频谱估计不同震动模式的共振频率。从蛋和蛋质量的先进球模式(S20)的共振频率获得蛋外壳强度。Colombus 是实验室规模设备,有两个转轮支撑鸡蛋,将其沿着纵轴旋转,用一个麦克风用来记录激发的鸡蛋振动情况。

Columbus(AET)新版主要特点:

蛋有效称重

蛋视觉检测

蛋体积

蛋形状

蛋颜色

无损鸡蛋质量检测的实验室设备

Columbus设备集成了声学蛋品检测 (AET) 和体积和形状参数测量。

特点

      Columbus集成有多种参数测量:

强度测量(动力刚度Kdyn)

自动裂缝检测

蛋重

蛋体积、形状和颜色(基于视觉传感器)

      公司花大量精力该设备的使用特性,主要是:

通过串行端口或以太网协议与您目前的IT系统相连。

可与我们云软件集成,收集所有数据

独立设备,无需计算机即可对其进行操作

选择Columbus

速度: 测量蛋多参数的有效方式

容易使用,所有数据均可直接放置在工作站合适位置或传输到其它系统

操作设备无需其它计算机

Columbus 版本

基本PLUS版视觉版

   自动裂缝探测。与离线重量测量组合使用,可测量 Kdyn。    Columbus 基本版,集成有称重系统。可自动计算  Kdyn。    Columbus Plus,配有额外视觉传感器 ,可测定蛋体积,形状和颜色。

工作原理

    将先进个鸡蛋放到设备上,首先用称重传感器测量鸡蛋重量。随后测量声波效应:鸡蛋旋转时,锤子轻敲鸡蛋4次。在左下图里,完好鸡蛋生成4个注册时间信号。基于这些时间信号,可计算出频谱,将完好鸡蛋的共振频率提取。该完好鸡蛋平均共振频率约为4300Hz。

蛋品无损检测仪原理分析图

参考文献

 设备使用的部分文献: • Assessment of some physical egg quality parameters based on vibration analysis, PhD thesis, 1998 – P. Coucke • Development of an automated monitoring device to quantify changes in firmness of apples during storage, Postharvest Biology and Technology, Volume 18, Issue 1, January 2000, Pages 1-8 – N. De Belie, S. Schotte, P. Coucke, J. De Baerdemaeker • Eggshell Crack Detection based on Acoustic Resonance Frequency Analysis,Journal of Agricultural Engineering Research, Volume 76, Issue 2, June 2000, Pages 157-163 – B. De Ketelaere, P. Coucke, J. De Baerdemaeker • Experimental analysis of the dynamic, mechanical behaviour of a chicken egg,Journal of Sound and Vibration, Volume 266, Issue 3, 18 September 2003, Pages 711-721 – P. Coucke, B. De Ketelaere, J. De Baerdemaeker


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